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NF T70-503-1995 国防用高能材料.安全、易损坏性.磨擦敏感性试验.BAM试验

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 10:51:38  浏览:9355   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Energeticmaterialsfordefense.Safety,vulnerability.Frictionsensitivitytest.Bamtest.
【原文标准名称】:国防用高能材料.安全、易损坏性.磨擦敏感性试验.BAM试验
【标准号】:NFT70-503-1995
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1995-12-01
【实施或试行日期】:1995-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G89
【国际标准分类号】:71_100_30
【页数】:14P;A4
【正文语种】:其他


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MIL-STD-644A, MILITARY STANDARD: VISUAL INSPECTION STANDARDS AND INSPECTION PROCEDURES FOR INSPECTION OF PACKAGING, PACKING AND MARKING OF SMALL ARMS AMMUNITION (03 DEC 1962)., This standard prescribes proceduresfor the inspection of packaging, packingand marking of small arms ammunition.It specifies the extent of the inspection ofthe container contents, the containers themselvesand overpacks of such containers. Italso supplies classification of defects, acceptablequality levels and furnishes visual defectstandards when necessary. This standard is intendedto be used by the small arms ammunitionmanufacturer, by the Government for verificationinspection and by any government facilityengaged in the packaging and packingof small arms ammunition. It forms an integralpart of the applicable cartridge specificationand is to be used in conjunctionwith the packaging, packing and markingdrawings referenced therein.【英文标准名称】:Specificationforharmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents.Blankdetailspecification:ambientratedthyristors
【原文标准名称】:电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范.额定环境温度的半导体开关元件
【标准号】:BSCECC50010-1983
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1983-02
【实施或试行日期】:1983-02-00
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检验;规范(审批);评估的质量;试验条件;详细规范;半导体整流器;质量保证体系;质量管理;电子设备及元件;鉴定试验;统计质量控制;资格鉴定;半导体闸流管;半导体器件;整流器
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L41;L00
【国际标准分类号】:
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语



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