IEC 60747-4 Edition 1.2-2001 半导体器件.分立器件.第4部分:微波器件

作者:标准资料网 时间:2024-05-06 16:33:02  浏览:8567   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Discretedevices-Part4:Microwavedevices
【原文标准名称】:半导体器件.分立器件.第4部分:微波器件
【标准号】:IEC60747-4Edition1.2-2001
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2001-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:晶体管;电子设备及元件;符号;分立式;微波晶体管;测量;二极管;额定值;半导体器件
【英文主题词】:Diodes;Discrete;Electronicequipmentandcomponents;Measurement;Microwavetransistors;Ratings;Semiconductordevices;Symbols;Transistors
【摘要】:Thepresentpublicationgivesstandardsforthefollowingcategoriesofdiscretedevices:-Variablecapacitancediodesandsnap-offdiodes(fortuning,up-converterorharmonicmultiplication,switching,limiting,phasedshift,parametricamplification...)-Mixerdiodesanddetectordiodes-Avalanchediodes(fordirectharmonicgeneration,amplification...)-Gunndiodes(fordirectharmonicgeneration...)-Bipolartransistors(foramplification,oscillation...)-Field-effecttransistors(foramplification,oscillation...).
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_10;31_080_30
【页数】:219P;A4
【正文语种】:英语